1、适用各种类型LED晶片,针对LED晶片所设计专用点测设备。
2、遮光罩设计,开启方便,并有效遮罩外界环境对LED测试的影响。
3、提供LED专用软件,上片后一键式完成全部操作。
4、使用1280X1024高像素CCD,内同轴光源。
5、Windows友好界面,Mapping图实时输出。
6、工作台采用精密导轨、丝杆传动方式,伺服电机驱动,精度高。
适用各种类型LED晶片,针对LED晶片所设计专用点测设备。遮光罩设计,开启方便,并有效遮罩外界环境对LED测试的影响。提供LED专用软件,上片后一键式完成全部操作。使用1280X1024高像素CCD,内同轴光源。Windows友好界面,Mapping图实时输出。工作台采用精密导轨、丝杆传动方式,伺服电机驱动,精度高。
返回列表
1、适用各种类型LED晶片,针对LED晶片所设计专用点测设备。
2、遮光罩设计,开启方便,并有效遮罩外界环境对LED测试的影响。
3、提供LED专用软件,上片后一键式完成全部操作。
4、使用1280X1024高像素CCD,内同轴光源。
5、Windows友好界面,Mapping图实时输出。
6、工作台采用精密导轨、丝杆传动方式,伺服电机驱动,精度高。
Ø 技术规格:
项目
技术规格
X/Y 轴
架构 高精密丝杆 行程 300*200mm重复性 ±3um
z 轴
架构 高精密丝杆 行程 10MM 重复性 ±3um
T 轴
可调角度:10度 解析度 0.002度
Chu ck盘
材质 高强度铝合金 真空开空 200 um(可特别订做)平整度 10um
探 针 座
X,Y,Z三轴可调 :10mil/转 :弹簧感应式触点:可折式探针固定座,方便换针
显 微 镜
目镜20X ,物镜1X-4.5X
CCD部件
0.8X/1280X1024 Pixels
外观尺寸
1100 × 800 × 1860 (mm)
0755 - 6112 0988
深圳市龙华区大浪街道高峰社区华达路乌石岗工业区10栋